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SB-SAD電子技術(shù)綜合實驗箱
一、系統(tǒng)簡介
電子實驗箱,電子技術(shù)實驗箱,電子技術(shù)綜合實訓(xùn)箱,電子試驗儀,隨著電子科學(xué)技術(shù)，尤其是微電子技術(shù)的發(fā)展，數(shù)字邏輯電路的實驗內(nèi)容得到不斷的更新，除了可以采用常規(guī)的TTL邏輯器件 (如邏輯門、觸發(fā)器等小規(guī)模集成電路)進行實驗外，也可以采用可編程邏輯器件(包括PLA，GAL、CPLD、FPGA等大規(guī)模集成電路)，借助計算機輔助設(shè)計軟件進行數(shù)字電路的設(shè)計和模擬調(diào)試，這種硬件軟化的實驗方法具有容易設(shè)計、容易修改和容易實現(xiàn)等優(yōu)點，可有效地提高實驗效率，正在逐步地替代前一種純硬件邏輯的實驗方法，成為數(shù)字邏輯電路實驗的重要內(nèi)容。
電子實驗儀綜合了許多高等院校數(shù)字邏輯電路教學(xué)實驗經(jīng)驗，科學(xué)配置實驗項目，既可以完成常規(guī)的數(shù)字電路實驗，又可以完成利用大規(guī)模邏輯器件（CPLD/FPGA）進行數(shù)字邏輯設(shè)計的實驗，以取代復(fù)雜的傳統(tǒng)TTL/COMS硬件設(shè)計。促使學(xué)生理論聯(lián)系實際，培養(yǎng)學(xué)生分析、設(shè)計、組裝和調(diào)試數(shù)字電路的基本技能，掌握數(shù)字邏輯電路實驗方法，并為掌握后繼專業(yè)學(xué)科打好基礎(chǔ)。
二、系統(tǒng)配置及特點
1、電源：
輸入：AC 220V±10%
輸出：DC 5V/3A，DC ±12V/0.5A
2、信號源：
（1）單脈沖：有四路單脈沖電路，每路產(chǎn)生一個寬的正單脈沖和一個窄的正單脈沖，其中二路在產(chǎn)生正脈沖的同時還產(chǎn)生一個負脈沖 。
（2）連續(xù)脈沖：分兩組，
一組為10路固定頻率的方波：1Hz、10Hz、100Hz、1KHz、10KHz、100KHz、0.5MHz、1MHz、5MHz、10MHz。
另一組為連續(xù)可調(diào)方波：0Hz～100KHz。
（3）時序脈沖發(fā)生電路及啟�？刂齐娐罚寒a(chǎn)生四路脈沖信號，脈沖周期與輸入的時鐘信號相同，四個脈沖之間依次相差1個輸入時鐘周期。
3、液晶顯示、量程自動切換的電壓、電阻表：具有數(shù)據(jù)保持功能
電壓測量范圍：-50V ～ +50V
電流測量范圍：0A～ 4A
電阻測量范圍：0 ～ 4MΩ
4、提供50MHZ液晶顯示頻率計
5、邏輯筆：紅色：高電平；綠色：低電平；黃色：高阻；
6、提供十六進制8421撥碼盤二組；
7、16位邏輯電平開關(guān)：
可輸出"0"、"1"電平，同時帶有電平指示，當開關(guān)置"1"電平時，對應(yīng)的指示燈亮，開關(guān)置"0"電平時，對應(yīng)的指示燈滅，開關(guān)狀態(tài)一目了然。
8、16位電平指示：
由紅、綠、黃、白16只LED及驅(qū)動電路組成。當正邏輯"1"電平輸入時LED點亮，反之LED熄滅。
9、數(shù)碼管顯示:
由6位7段LED數(shù)碼管及二―十六進制譯碼器組成。供數(shù)字鐘、日歷等實驗顯示用.
10、提供兩路0～Vx可調(diào)模擬電壓信號源。輸出Vx為：0～±5V 、0～±0.5V。
11、蜂鳴器及驅(qū)動電路。提供時鐘報時、報警、音樂用等發(fā)聲裝置。
12、內(nèi)置1K、20K、100K電位器，作可變電阻用。
13、開放式實驗區(qū)，提供多種多只 IC園孔插座（6只14芯、6只16芯、4只20芯），園孔插座接觸好，耐插拔；1只40芯鎖緊插座，可插8～40芯片。
14、提供分立元件接插區(qū)，可接插電阻、電容、穩(wěn)壓管、二極管和電位器等，方便擴展。
15、提供高質(zhì)量的實驗面包板，進行擴展實驗及創(chuàng)新實驗。
16、全部信號的引出插孔均采用中型鍍金孔，不氧化，不變色。實驗連接線采用鍍金自鎖緊接插頭，接線的可靠性好。
17、主板上可以擴展大規(guī)�？删幊唐骷�CPLD或FPGA實驗卡�？蛇x配Lattice公司的1032，也可根據(jù)用戶需求配置其它公司的器件，如Aletra 7128，Xilinx 95108。
18、可選配模擬電路實驗卡
三、實驗內(nèi)容：
（一）數(shù)字電路推薦實驗項目：
（1）TTL集成邏輯門的參數(shù)測試與使用
（2）CMOS集成邏輯門的測試
（3）門電路的邏輯功能實驗
（4）常用組合邏輯功能器件的測試
（5）數(shù)據(jù)選擇器及其應(yīng)用
（6）血型關(guān)系檢測電路和表決電路
（7）RS觸發(fā)器的功能與測試
（8）JK觸發(fā)器邏輯功能及主要參數(shù)測試
（9）移位寄存器的功能測試
（10）十進制計數(shù)器（CMOS）
（11）異步計數(shù)器
（12）同步計數(shù)器
（13）計數(shù)、譯碼、顯示電路實驗
（14）555集成定時器及應(yīng)用
（15）序列檢測器
（16）數(shù)-模轉(zhuǎn)換器
（17）追隨比較型A/D轉(zhuǎn)換電路
（18）人工控制交通燈控制器
（19）汽車尾燈控制電路
（20）數(shù)字鐘電路的設(shè)計
（21）時序電路測試及研究
（22）波形產(chǎn)生及單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器
（23）A/D 轉(zhuǎn)換電路
（24）D/A轉(zhuǎn)換電路
（二）EDA器件開發(fā)設(shè)計實驗（需選配EDA擴展卡）
1、單元電路設(shè)計實驗：
（1）常用門電路設(shè)計
（2）編碼器/譯碼器設(shè)計
（3）觸發(fā)器及時序電路設(shè)計
（4）同步/異步計數(shù)器設(shè)計
（5）鍵盤掃描實驗
（6）加法器實驗
2、綜合設(shè)計實驗：
（1）SSI組合電路的設(shè)計與冒險競爭觀察
（2）MSI組合電路的設(shè)計
（3）可讀寫寄存器的設(shè)計
3、研究創(chuàng)新實驗：
（1）數(shù)字頻率計
（2）數(shù)字電子鐘設(shè)計
（3）十字路口交通燈自動控制器的設(shè)計
（4）出租車計費器的設(shè)計
（5）數(shù)字濾波器設(shè)計
（6）DAC、ADC模型設(shè)計；
（7）數(shù)字模擬綜合系統(tǒng)設(shè)計
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